超高真空低温扫描探针显微镜
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5/人使用者
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650/次总次数
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19862/小时总时长
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2/人收藏者
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收费标准
机时400元/小时 -
设备型号
LT-STM-AFM-N -
当前状态
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管理员
张力,秦志辉 15905601662 -
放置地点
岳麓校区物电楼A132
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
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名称
超高真空低温扫描探针显微镜
资产编号
2002995S
型号
LT-STM-AFM-N
规格
超高真空低温qPlus、STM
产地
中国
厂家
Createc Fisher & Co. GmbH
所属品牌
Createc
出产日期
2019-08-02
购买日期
2020-09-21
所属单位
物理与微电子科学学院
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
秦志辉 张力
联系电话
15905601662
联系邮箱
zhqin@hnu.edu.cn
放置地点
岳麓校区物电楼A132
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
1. 工作温度范围为4.8K-500K，探针在x、y、z方向的粗移动范围不小于±2mm x ±2 mm x 6 mm（工作温度范围），其扫描面积在液氦温度下不小于 1.2μmx1.2μm, 在77 K时不小于2.5μmx2.5μm，在室温下不小于5μmx5μm。2. 样品台具备5个外部引线电极。3. 扫描隧道显微镜在液氮以及液氦冷却下均可得到Au（111）表面原子分辨率图像，可清晰观察到表面重构结构。具有STS（扫描隧道谱）功能，提供Au（111）的标准能量谱，能量分辨率优于1 meV。基于qPlus技术的非接触式原子力显微镜在液氮及液氦冷却下均可得到Si（111）-7x7表面原子分辨率图
主要功能及特色
用于材料的微观结构、微区电子结构等性能开展可视化研究
样本检测注意事项
1. 样品须是导体或者半导体且具有一定的刚性；2. 样品标准尺寸长宽厚为10mmx2.5mmx1mm，宽度须小于等于2.5mm，厚度最大1.5mm；3. 因该设备正常工作情况下以200nmx200nm区域扫描，所以待测结构须尽量高密度分布在样品上，最好整个表面是同一种结构，以便寻找到待测结构（往往该过程花费很多机时），以尽可能缩短样品扫描时间，并请提供OM和SEM照片以判断表面粗糙度优于5nm每4
设备使用相关说明
形貌表征及扫描隧道谱局域电子态表征(液氮制冷剂)，400元/小时；形貌表征及扫描隧道谱局域电子态表征(液氦制冷剂)，800元/小时，机时数包括必要的开机准备时间、测试时间、必须的后处理时间，由液氮转为液氦耗费液氦部分另计算；
备注
预约进行超高真空低温扫描探针显微镜测试服务，要求如下：1. 样品须是导体或者半导体且具有一定的刚性；要求干燥无可挥发成分；2. 样品标准尺寸长宽厚为10mmx2.5mmx1mm，宽度须小于等于2.5mm，厚度最大1.5mm；3. 因该设备正常工作情况下以200nmx200nm区域扫描，所以待测结构须尽量高密度分布在样品上，请提供OM和SEM照片以判断表面粗糙度优于5nm每4万平方纳米为佳
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