半导体参数分析仪

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收费标准

机时
0元/小时

设备型号

4200

当前状态

待报废

管理员

张明 18573100643

放置地点

岳麓校区物电楼A108
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名称

半导体参数分析仪

资产编号

20085111

型号

4200

规格

产地

瑞士

厂家

美国

所属品牌

出产日期

购买日期

2008-12-10

所属单位

物理与微电子科学学院

使用性质

科研

所属分类

资产负责人

张明

联系电话

18573100643

联系邮箱

754809453@qq.com

放置地点

岳麓校区物电楼A108
  • 主要规格&技术指标
  • 主要功能及特色
  • 样本检测注意事项
  • 设备使用相关说明
  • 备注
主要规格&技术指标
测定半导体器件的各种参数
主要功能及特色
光学材料表面轮廓检测
样本检测注意事项
测量半导体各种特性,例如IV曲线、转移特性曲线、输出特性曲线
设备使用相关说明
600元/小时
备注
由本实验室操作员操作,用户现场观看
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