半导体参数分析仪
-
0/人使用者
-
0/次总次数
-
0/小时总时长
-
2/人收藏者
-
收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
4200 -
当前状态
待报废 -
管理员
张明 18573100643 -
放置地点
岳麓校区物电楼A108
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
- 同类仪器
名称
半导体参数分析仪
资产编号
20085111
型号
4200
规格
产地
瑞士
厂家
美国
所属品牌
出产日期
购买日期
2008-12-10
所属单位
物理与微电子科学学院
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
张明
联系电话
18573100643
联系邮箱
754809453@qq.com
放置地点
岳麓校区物电楼A108
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
测定半导体器件的各种参数
主要功能及特色
光学材料表面轮廓检测
样本检测注意事项
测量半导体各种特性，例如IV曲线、转移特性曲线、输出特性曲线
设备使用相关说明
600元/小时
备注
由本实验室操作员操作，用户现场观看
预约资源
附件下载
公告
同类仪器
