场发射扫描电子显微镜JSMIT800
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794/次总次数
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2031/小时总时长
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71/人收藏者
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收费标准
机时分段计费 -
设备型号
JSMIT800 -
当前状态
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管理员
陈庆伶 -
放置地点
岳麓校区创新大楼一层107显微成像实验室一
- 仪器信息
- 预约资源
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名称
场发射扫描电子显微镜JSMIT800
资产编号
2403419S
型号
JSMIT800
规格
产地
厂家
日本电子
所属品牌
日本电子
出产日期
购买日期
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
陈庆伶
联系电话
联系邮箱
zouk@hnu.edu.cn
放置地点
岳麓校区创新大楼一层107显微成像实验室一
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
1.二次电子像分辨率：≤0.7nm (20kV) ；≤1.3 nm (1kV)
2. 背散射电子像分辨率：≤1.5nm (20kV)
3.加速电压：0.01kV ～ 30kV连续可调
4.束流范围：热场发射电子枪 1pA～300nA(30kV)，分析效率高，同时5kV最大束流优于100nA
5.放大倍率10X – 1,000,000X ；放大倍数粗、细模式连续可调，具有随着工作距离或加速电压的变化自动精确校正、补偿、预设功能。
6.配备BS、EDS与EBSD探头。
2. 背散射电子像分辨率：≤1.5nm (20kV)
3.加速电压：0.01kV ～ 30kV连续可调
4.束流范围：热场发射电子枪 1pA～300nA(30kV)，分析效率高，同时5kV最大束流优于100nA
5.放大倍率10X – 1,000,000X ；放大倍数粗、细模式连续可调，具有随着工作距离或加速电压的变化自动精确校正、补偿、预设功能。
6.配备BS、EDS与EBSD探头。
主要功能及特色
主要用于金属材料、非金属材料和纳米材料等多种材料的电子显微学研究，在高真空条件下对样品进行直接的超高分辨显微形貌观察、微区元素分析和晶体取向分析。被广泛地应用于纳米科学、冶金学、物理学、材料科学、机械学、地学、矿物学、生命科学和半导体等多种领域
设备使用相关说明
校内300元/小时、校外400元/小时，校外EBSD 600元/小时
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