分析测试中心低温强磁高频信号测量仪（探针台）应用培训定于9月26日上午9：30在分测中心114显微成像实验室三进行，有培训需求的同学请扫描二维码入群，如有疑问请联系张老师（微信号：18846178905）。

     低温强磁高频信号测量仪（探针台）为材料以及早期的电子器件的非破坏电学测量提供了精确的可控环境。此套系统可进行方便的，可重复的测量，包括样品在整个温度范围内的IV和CV曲线测试、霍尔测试、光电测试和微波响应等综合分析测试。

主要规格及技术指标：
1.高低温强磁微波测试台、霍尔测试模块、同步源测锁相、半导体器件分析仪、阻抗分析仪、矢量网络分析仪
2.技术指标：
（1）温度范围：10K-500K；
（2）探针臂配置：4个直流探针臂，可进行直流到50MHz的射频测量；
（3）半导体器件分析仪模块：高分辨率源/测量单元的最小电流测量分辨率≤1fA；高分辨率源/测量单元的最小电压测量分辨率≤0.5μV。