湖南大学分析测试中心场发射透射电子显微镜（JEOL JEM-F200）已安装调试完成，自2024年11月6日起试运行，欢迎校内外用户预约测试！

场发射透射电子显微镜(JEOL JEM-F200）

1. 功能特色
        JEM-F200搭载肖特基热场发射电子枪及高分辨极靴，能够进行常规TEM、HRTEM、SAED、STEM观察。配备双能谱探头，可进行元素成分分析；结合STEM，可进行EDS点、线、面分析。配备SE及BSE探头，可进行形貌的二次电子及背散射电子像观察。配备Gatan底插式ClearView（Model 1195）相机，具有更高的量子探测效率及信噪比。配备多样品杆，可不需重复进出样实现三个样品的连续观察。

2. 技术参数
    加速电压：200 kV
    电子枪：肖特基热场发射电子枪
    TEM点分辨率： 0.23 nm
    HAADF分辨率： 0.16 nm
    SEI分辨率： 1 nm 
    样品最大倾转角：±30°（α），±30°(β)

3. 预约测试

    3.1 预约方式：登陆湖南大学大型仪器设备共享平台网站http://sbgx.hnu.edu.cn/，在线注册申请预约权限后预约使用。
    3.2 收费标准：400元/小时（校内），800元/小时（校外），自主上机测试用户享受收费优惠政策。