我校分析测试中心新购置的桌面X射线精细结构谱仪（easyXAFS 300+）已完成安装调试，自2024年12月26日起正式开放运行，欢迎校内外师生前来预约使用。

该桌面X射线吸收精细结构谱仪具有X射线发射谱（XES）和X射线吸收精细结构谱测量（XAFS）功能，可获得材料氧化态和键共价性、配位数、原子间距等信息。

桌面X射线精细结构谱仪

主要配置：

1. 高分辨罗兰环结构硬X射线单色器系统；
2. 硅漂移检测器 (SDD)；
3. XAFS能量范围：5-19 keV，能量分辨率：0.5-1.5 eV (7-9 keV)；  XES模式能量分辨率：1.0 -1.5 eV (7-9 keV)；
4. 光通量：300,000~500,000 photons/sec. (7-9 keV)；

收费情况：

安装地点：湖南大学创新楼一楼分测中心102材料性能实验室

预约方式：登陆湖南大学大型仪器设备共享平台网站（http://sbgx.hnu.edu.cn/）在线注册后预约使用。

联系人：李佩   邮箱：lipei0504@hnu.edu.cn