分析测试中心设备培训通知

      为提升仪器设备开放共享效率，满足师生用户需求，现分析测试中心针对热分析设备（同步热分析仪、差示扫描量热仪、动态热机械分析仪）、高精度纳米力学测试系统、多晶X射线衍射仪等仪器设备征集培训需求。

培训设备简介  

       1、热分析设备（同步热分析仪、差示扫描量热仪、动态热机械分析仪）

            同步热分析仪 （NETZSCH STA449F5），温度范围：室温-1600℃，建议样品质量：10-20mg； 升温速率：0-50℃/min 

            差示扫描量热仪（NETZSCH DSC204F1），温度范围：-85℃-600℃，建议样品质量：10mg；升温速率：0.01-200K/min；测量范围：0-±750mW

            动态热机械分析仪（NETZSCH DMA242E），温度范围-170-600℃，位移传感器检测分辨率:0.5nm；模量范围:0.001-10MPa；测量频率:0.01-100 Hz；载荷范围:24N；变形模式:三点弯曲、单/双悬臂、拉伸、压缩模式,剪切,TMA等；配置粘稠样品专用球状压头。

        2、高精度纳米力学测试系统（Bruker IT Premier）

            纳米压痕模块：最大载荷：10 mN，载荷(力量)分辨率：2nN；位移分辨率：0.01 nm，位移噪音背景：0.2 nm，热漂移(在室温条件下)：0.05 nm/s；最小接触力：80 nN；Z轴方向压头移动的最大范围：50mm；最大压入位移：   5 μm

         纳米划痕模块：最大横向载荷力：≥2 mN；横向载荷分辨率：＜50 nN；载荷噪声背景：≤4 μN；横向位移噪音背景：≤2.5 nm；横向位移分辨率：≤0.03 nm； 最大横向位移：≥10μm；热漂移(在室温条件下)：≤0.05 nm/s

              纳米摩擦磨损模块：磨损面积范围：1 μm×1 μm-30 μm×30 μm；纵向载荷范围≥: 70 nN – 1mN

          原位扫描成像及定位模块：扫描频率：0.01 Hz–3.0 Hz；最小成像力≤80 nN；扫描分辨率:≥ 256×256像素点；原位扫描探针的位置控制精度满足：压痕、划痕≤±10 nm的位置；单幅扫描体积≥：50×50×2μm，图像可拼接

          400℃高温模块

          动态力学测试模块（nano DMA）：频率范围≥0.2～300Hz，最大动态载荷≥5mN，最大准静态力≥10mN，载荷噪音背景≤30nN，最大动态位移振幅≥2 μm，最大准静态位移≥5μm，位移噪音背景≤0.2nm

          3、多晶X射线衍射仪 （Bruker D8 Advance ）

           普通粉末XRD

           高温粉末XRD：直接加热范围为室温-1600℃，间接加热范围为室温-1100℃

           薄膜掠入射（GID）：平行光Gobel mirror，角度分辨率0.2度

           薄膜反射率（XRR）

           小角衍射，最低0.3度起测

            注意！！！上述仪器设备测试样品均不可具有毒性、腐蚀性！

培训形式及费用

     理论讲解+上机操作+自主操作及考核。此期培训中，理论讲解及上机操作讲解部分不收取培训费用，用户自主上机时间段须由用户自主预约机时。

需求报名时间

     即日起，请培训需求的同学扫描二维码入群，入群备注姓名（导师）-培训设备和需求功能，例：王同学（李老师）-XRD普通粉末测试。

        如有疑问，请联系分析测试中心设备管理人员 陈庆伶，13787063140（微信同号）。