- 透射电子显微镜(JEOL JEM-F200)自主上机操作培训通知
- 2024.10.09 580
为践行湖南大学分析测试中心(以下简称“中心”)仪器开放共享的理念,充分发挥中心作为校级仪器共享平台对人才的托举作用,中心球差电镜实验室拟开展JEM-F200自主上机操作培训,提升仪器设备共享效率,满足校内师生用户需求,以便更好地发挥科研利器作用,支撑高水平人才培养与高水平科学研究成果产出。
1. 培训仪器介绍
本次培训的仪器为JEOL JEM-F200透射电子显微镜。JEM-F200搭载肖特基热场发射电子枪及高分辨极靴,能够进行常规TEM、HRTEM、SAED、STEM观察。配备双能谱探头,可进行元素成分分析;结合STEM,可进行EDS点、线、面分析。配备SE及BSE探头,可同时进行形貌的二次电子及背散射电子像观察。配备Gatan底插式ClearView(Model 1195)相机,具有更高的量子探测效率及信噪比。配备多样品杆,可不需重复进出样实现三个样品的连续观察。
2.培训对象
对电镜表征有需求并希望独立操作的校内师生,本次培训限10人。电镜机时使用较多的用户,具有晶体学理论基础或透射电镜操作经验的人员将优先考虑。请课题组按需推荐,本次培训每个课题组仅接受1人报名申请。
3.培训方式及内容
理论讲解+上机操作指导+自主上机练习及考核。培训内容包括透射电镜基本结构与原理、TEM和STEM成像、选区电子衍射、二次电子形貌像、EDS能谱点线面扫分析等。
4.报名时间
即日起至2024年10月18日;请在截止日期前填写申请表(见附件),导师签字后将扫描件发送至邮箱:huangyi2022@hnu.edu.cn。邮件主题: 姓名+xxx学院xxx课题组+F200培训。中心将对申请者的需求程度及使用频率进行综合评估,优先考虑使用频率较高的课题组。
5.注意事项
(1)该设备鼓励用户参与培训并自主上机操作。
(2)费用说明:本次培训理论讲解及上机操作指导不收取培训费用,并免费提供1天的自主上机练习,额外的自主上机练习须由用户预约电镜机时进行,费用按正常机时费收取。参加培训的学员在自主上机练习后可申请考核,考核通过后可获得自主上机操作资格。
(3)参加自主上机实操培训练习前,需提前与设备负责人联系,预约生成结算单后安排自主上机实操练习机时。
(4)考核通过者成为中心初级资质用户,获得JEM-F200自主上机证明。可在工作、非工作时间段(周一至周五18:00-22:00,周末09:00-22:00)自主预约电镜自主测试,其中非工作时间段自主上机测试按规定享受一定的收费优惠政策。
(5)如对本次培训有疑问,请与电镜室老师联系 15521253495。
//推荐
暂无内容