超高分辨透射电子显微镜
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2478/次机时次数
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9476/小时总时长
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1339/人收藏者
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收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
JEM-3010(海关进口) -
当前状态
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管理员
赵新奇 13574101433 -
放置地点
岳麓校区无明确放置地点的设备请管理员进行绑定
- 仪器信息
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- 公告
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名称
超高分辨透射电子显微镜
资产编号
20055593
型号
JEM-3010(海关进口)
规格
*
产地
日本
厂家
日本电子株式会社
所属品牌
出产日期
2004-09-01
购买日期
2005-12-26
所属单位
材料科学与工程学院
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
赵新奇
联系电话
13574101433
联系邮箱
放置地点
岳麓校区无明确放置地点的设备请管理员进行绑定
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
技术指标：点分辨率为0.17nm，最大放大倍数150万倍学术特色：微观组织结构观察，尤其是纳米尺寸物相观察与分析，能谱仪可进行成分分析。
主要功能及特色
可用于微观组织结构的观察，以及成分分析。
样本检测注意事项
样品台放置的样品为直径3毫米的圆片，样品薄区可观察的区域厚度小于100纳米。
设备使用相关说明
预约进行透射电镜测试服务，要求1。详细描述样品的状态（包括以下内容：样品是块体还是粉体，粉体的颗粒尺寸，有无磁性，样品主要的成分，比如是铝合金，铜合金，掺杂碳纳米管，石墨烯，等等）2。测试的内容，比如普通形貌，电子衍射，能谱成分分析，高分辨图像3。预约的时间，按照一个样品一个小时（机时），如果需要进行更仔细的观察，可根据样品的需求的时间进行合理的预约时间的延长。
备注
样品台放置的样品为直径3毫米的圆片，样品薄区可观察的区域厚度小于100纳米。
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公告
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