白光干涉仪

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收费标准

机时
150元/小时

设备型号

CONTOUR X-100

当前状态

管理员

郭蕾 18896516559

放置地点

岳麓校区创新大楼一层113光学实验室
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名称

白光干涉仪

资产编号

2023027

型号

CONTOUR X-100

规格

产地

厂家

所属品牌

布鲁克

出产日期

购买日期

所属单位

分析测试中心

使用性质

科研

所属分类

资产负责人

郭蕾

联系电话

18896516559

联系邮箱

leiguo@hnu.edu.cn

放置地点

岳麓校区创新大楼一层113光学实验室
  • 主要规格&技术指标
  • 主要功能及特色
主要规格&技术指标
1. 内置两个独立的长寿命LED光源,根据不同工作模式的可以单独或同时激发。
2. 垂直分辨率:≤0.01nm Ra;RMS重现性:0.01nm。
3. 垂直方向单次测量量程:≥10mm,全量程闭环控制可以一次拼接而非压电陶瓷与多次拼接方式。
4. 垂直扫描速度:≥37微米/秒;台阶测试精度:≤0.75%(8µm以上的台阶高度测试准确性)。
5. 样品台具有角度调整功能,倾斜调制范围:≥±5°(Tip/Tilt)
6. 样品台XY移动范围≥150mm×150mm;
7. CCD:像素≥500万,阵列≥1200 x 1000;粗糙度测试RMS重复性:≤0.03nm。
8. 配备10倍干涉物镜和8um标准台阶各1个。
主要功能及特色
可进行磨损体积、磨损形貌、磨损深度、表面粗糙度等数据定量分析,相互独立使用而互不影响;采用白光干涉测量原理,包含三种工作模式:垂直扫描干涉测量模式、相移干涉测量模式;自适应通用测量模式。
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