X射线光电子能谱仪
-
22/人使用者
-
612/次机时次数
-
8539/小时总时长
-
232/次送样次数
-
340/人收藏者
-
收费标准
机时100元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
AXIS SUPRA -
当前状态
-
管理员
陶李 15116356750 -
放置地点
岳麓校区逸夫楼中栋负一楼B103
- 仪器信息
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
- 同类仪器
名称
X射线光电子能谱仪
资产编号
2005748S
型号
AXIS SUPRA
规格
AXIS SUPRA
产地
英国
厂家
日本SHIMADZU
所属品牌
岛津-KRATOS公司
出产日期
购买日期
2020-10-28
所属单位
化学化工学院
使用性质
科研
所属分类
光谱仪
资产负责人
陶李
联系电话
15116356750
联系邮箱
taoli@hnu.edu.cn
放置地点
岳麓校区逸夫楼中栋负一楼B103
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
真空系统分析室：真空腔为纯μ金属制造，真空度优于7.0×10-8Pa(即7.0×10-10 mbar)；分析室真空泵：独立的机械泵，分子涡轮泵及钛升华泵组合；进样及样品处理室：真空度优于7.0×10-7Pa(即7.0×10-9 mbar)；进样及样品处理室：完全独立的腔室，不与分析腔共用；有独立的闸板阀设计。超高真空监测装置：配置超高真空阴极离子规一套多功能样品停放台样品台：轴向：5轴样品台，即X、Y、Z移动、倾斜及旋转；移动范围：X方向150 mm，Y方向30mm，Z方向18mm；移动精度：1μm；倾斜范围：以水平方向为轴-90o~ +90o倾斜，变角精度1o
主要功能及特色
测定有机、无机物质的晶体结构，同时可获得样品的晶胞参数、键长，键角，构象，氢键，分子间的堆积作用等信息，可用于从分子结构出发设计分子器件、探索功能材料与结构的关系、新型催化剂的催化机理、纳米材料性能的解释、新型化合物的设计和表征提供重要的信息。
样本检测注意事项
1、常规XPS谱图测试(只宽扫，不窄扫）2、常规XPS谱图测试，包括宽扫和5个元素的窄扫（C1s加上其它4个）3、使用Ar离子轰击清洗样品表面+常规谱图测试4、使用Ar离子轰击来减薄样品表面+常规谱图测试5、XPS 成像测试（选区和成像扫描）6、XPS 深度剖析测试（Ar离子刻蚀加元素窄扫）7、角分辨检测8、UPS测试（价带谱和/或功函数）9、ISS(离子散射谱）
设备使用相关说明
见附件收费标准明细
备注
1.测试请加群——湖大XPS测试群：838720324.收费标准和送样注意事项见平台附件材料3.样品提前真空干燥好，尽量用干净的玻璃瓶或者表面皿盛放。4.送样时将送样表打印签字和样品一起拿过来，逸夫楼中栋负一楼5.样品制备和处理过程中一定要带无尘手套，避免样品表面污染。
检测项目
附件下载
公告
同类仪器
