桌面X射线吸收精细结构谱仪

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收费标准

机时
300元/小时

设备型号

easyXAFS300+

当前状态

管理员

孙宏莱 15845403653

放置地点

岳麓校区创新大楼一层102材料性能实验室
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名称

桌面X射线吸收精细结构谱仪

资产编号

2509535S

型号

easyXAFS300+

规格

产地

美国

厂家

easyXAFS

所属品牌

easyXAFS

出产日期

购买日期

所属单位

分析测试中心

使用性质

科研

所属分类

资产负责人

--

联系电话

15845403653

联系邮箱

放置地点

岳麓校区创新大楼一层102材料性能实验室
  • 主要规格&技术指标
  • 主要功能及特色
  • 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
1.主要附件:高分辨罗兰环结构硬X射线单色器系统、硅漂移检测器(SDD)
2.关键指标:XAFS能量范围:5-19 keV,能量分辨率:0.5-1.5 eV (7-9 keV);XES模式能量分辨率:1.0 -1.5 eV (7-9 keV);光通量:300,000~500,000 photons/sec. (7-9 keV)
3.主要功能:X射线发射谱测试(XES)、X射线吸收谱测试(XAFS)
4.光通量:300,000~500,000 photons/sec. (7-9 keV)
主要功能及特色
该台式X射线吸收精细结构谱仪具有X射线发射谱(XES)和X射线吸收精细结构谱测量(XAFS)功能,可获得材料氧化态和键共价性、配位数、原子间距等信息。
设备使用相关说明
校内:300元/小时;校外:600元/小时
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