场发射透射电子显微镜（JEM-F200）
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130/人使用者
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256/次机时次数
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292/小时总时长
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0/次送样次数
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336/人收藏者
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收费标准
机时分段计费 -
设备型号
JEOL JEM-F200 -
当前状态
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管理员
马超,许攀 13308436139 -
放置地点
岳麓校区两山一湖球差电镜实验室
- 仪器信息
- 预约资源
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名称
场发射透射电子显微镜（JEM-F200）
资产编号
2024009
型号
JEOL JEM-F200
规格
JEOL JEM-F200 (HR)
产地
日本
厂家
日本电子株式会社
所属品牌
日本电子
出产日期
购买日期
2022-12-27
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
马超
联系电话
13308436139
联系邮箱
cma@hnu.edu.cn
放置地点
岳麓校区两山一湖球差电镜实验室
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
1、加速电压：200 kV
2、TEM点分辨率：≤0.23 nm，HAADF-STEM分辨率：≤0.16 nm，SEI分辨率：≤1 nm
2、TEM点分辨率：≤0.23 nm，HAADF-STEM分辨率：≤0.16 nm，SEI分辨率：≤1 nm
主要功能及特色
主要功能：选区电子衍射(SAED)、衍衬像、高分辨像（HRTEM）、扫描透射像(BF-STEM, HAADF-STEM)、背散射电子/二次电子像、X射线能谱EDS分析（点，线扫，元素mapping等）
样本检测注意事项
1，样品不具有磁性
2，样品不能具有挥发性
注：不能拍单原子
2，样品不能具有挥发性
注：不能拍单原子
设备使用相关说明
校内：400元/小时
校外：800元/小时
校外：800元/小时
备注
该平台的透射电镜测试不提供制样服务，所有用户需自行提前准备好满足透射电镜测试需求的样品。相关制样需求和样品测试需求，需提前咨询平台联系人。
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